倒装芯片清洗合明科技分享:倒装芯片焊接产生空洞解析
倒芯封装清洗剂合明科技分享:倒装芯片焊接产生空洞解析
文章来源:SMT技术网
文章关键词导读:芯片、焊接、PCBA线路板、水基清洗剂
导读
倒装无金线芯片级封装,基于倒装焊技术,在LED芯片封装封装界中推广多年,减少了金线封装工艺,省掉导线架、打线,仅留下芯片搭配荧光粉与封装胶使用。作为新封装技术产品,倒装无金线芯片级光源完全没有因金线虚焊或接触不良引起的不亮、闪烁、光衰大等问题。相比于传统封装工艺,芯片级光源的封装密度增加了16倍,封装体积却缩小了80%,灯具设计空间更大。倒装无金线芯片凭借更稳定的性能、更好的散热性、更均匀的光色分布、更小的体积,受到越来越多LED灯具企业和终端产品应用企业的青睐。
那么上面诸多优势、优点。为何发展几年,封装界还是雷声大雨点小呢?经过很多封装厂家工程共同沟通、分析。发现大家共同关注关键词就是焊接后“空洞、推力、光效”等。今天Aoniu就带大家看看空洞是如何来的,空洞在哪些条件下产生的?
上图为BGA原件成品,在基板面贴装时锡球高度的前后变化情况;右图中可以看到右球中之空洞太大,以致挤压无铅焊料向左强力推出,进而造成与左球短路的真相。
上图铜垫表面为OSP处理,右图则可能是锡膏本身有机物形成的空洞。
基板线路焊盘不良与后续镀铜欠佳以收孔壁有破洞者,经常会在下游组回流焊中,造成铜壁上原有的破洞向外吹气,此等恶劣的基板焊盘常被称为吹孔。由于基材经过许多湿制程,难免会从孔壁破口处,吸入一些水气或化学品,进而造成油高温焊接的孔壁张开与气体的喷出,致使子L内的液态填锡发生被吹后的空洞。这种就是焊接传统填锡的虚洞。
上图均为基板不良孔壁,吸入水汽,经高温焊接拉大缺口时,向液态填锡中吹气而造成的空洞。
壁内盲孔或垫下通孔所造成的空洞
HD工手机板为了节省板面有限空间,早已将CSP或者BGA之间互连改掉原本通孔与球壁间之哑铃型(DOGBONE)互连设计,而替代为直上直下更为省地的垫内盲孔或通孔。
且在高速与高频讯号之路径变短而电感减少下,杂讯也随之降低。但如此一来,在S M T印妥锡膏再踩上球脚与后续进行熔焊时,不但孔内原有空气无法赶走,再加上助焊剂有机物的额外发气,助纣为虐下大号空洞不免就频频出现了。目前许多手机板的客户们都要求 .採用镀铜方式将微盲孔予以填平,以减少空洞的发生以增加焊点强度。
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上图为BAG垫内盲孔的俯视与侧视图;上中图为一般平面球垫与盲孔球垫的区别;上右图均为盲孔球垫的空洞情形。
当生产线所用P r O fi 1 e在熔点以上的耗时太长者(无铅S A C于2 1 7℃以上约在6 0-80秒),会让助焊剂中可挥发的东西都将消失殆尽,致使助焊剂之黏度变大或烧乾,甚至裂解掉而无法顺利移动;沾锡太慢或无法沾锡下当然就会形成空洞。至于现行的S n 6 3,其熔点仅1 8 3℃,超过熔点的时间也仅50一60秒而已,相对之下残留的气泡也就自然不多了。而且无铅焊接之操作时间拉长,再氧化的机会也就变大,空洞机率难免上升。倘若P r O fi l e中的峰温不太高(205℃),其较平坦恒温吸热段(S O ak S t a g e)的长短(2分钟内),对于空洞生成的影响尚不大,然而无铅已完全占不到这种便宜了。
上图说明锡膏中发挥沸点越高者,发生空洞的机会也会减少
6 3/3 7共熔焊料的平均沾锡时间(w e t t i n g T i m e)约为0.6秒,但S A C 405者却接近1。5秒之久。无铅焊料本身移动速度太慢与表面张力太大之下,当然就会使得所形成的气泡难以逃出(Outgassing)焊料之界外。
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以上为本公司一些经验的累积,因工艺问题内容广泛,没有面面俱到,只对常见问题作分析,随着电子产业的不断更新换代,新的工艺问题也不断出现,本公司自成立以来不断的追求产品的创新,做到与时俱进,熟悉各种生产复杂工艺,能为各种客户提供全方位的工艺、设备、材料的清洗解决方案支持。
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